10月14日，英国伦敦大学学院科学家Alberto Astolfo博士应邀做客第465期“太阳新城学术论坛”。Astolfo博士面向全系师生作了题为“基于边缘照射暗场成像的危险品探测方法（Enhanced detection of threat materials by dark-field x-ray imaging using edge illumination approach）”的学术报告。本次学术论坛由王振天副教授主持，包括校内外20多名师生参加。

Astolfo博士介绍英国伦敦大学学院提出了基于边缘照射的X射线多特性成像方法的原理和发展历程，并详细介绍了其研究团队利用该方法在生物医学和安全检查方面的应用经验，特别是安检方面，结合深度学习的X射线暗场成像在危险品检测方面展示去巨大潜力。这次活动受到了我系的支持，促进了我系在辐射成像领域与国际知名团队的交流与合作。